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| | **零度 |
| | 是指-273.16° C、-459.69° F 或 0° K溫度，普遍認為在該溫度下分子運動消失，物體不會輻射熱能。 |
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| | 準確度 |
| | 輻射測溫儀指示的溫度與已知參考源溫度之間的一組測量值的*大偏差，包括參考溫度源的不確定度。準確度可以有多種表示方法，包括溫度、溫度讀數(shù)的百分比，或儀器的滿量程溫度百分比。 |
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| | 環(huán)境降額 |
| | 儀器由于其工作環(huán)境溫度不同于其被校準時的環(huán)境溫度而導致其準確度變差或下降。另請參見“溫度系數(shù)”。 |
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| | 工作環(huán)境溫度 |
| | 儀器工作的設計環(huán)境溫度范圍。 |
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| | 環(huán)境溫度 |
| | 儀器的溫度。也可以指造成本底輻射的溫度。請參見“本底輻射”。 |
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| | 環(huán)境溫度補償(TAMB) |
| | 請參見“反射能量補償”。 |
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| | ASTM |
| | 美國試驗與材料協(xié)會。 |
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| | ASTM E 1256 |
| | ASTM E1256 - 88 輻射測溫儀的標準測試法(單波段型)。我們依據(jù)這一標準來測試和校準雷泰產(chǎn)品的準確度、可重復性、分辨率、目標大小、響應時間、預熱時間和長期漂移。 |
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| | 大氣窗口 |
| | 大氣對輻射能量的傳輸產(chǎn)生的影響*小時的光譜帶。光譜帶包括 0.4 至 1.8、2 至 2.5、3 至 5 及 8 至 14 微米。 |
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| | 本底輻射 |
| | 從源而非預定目標發(fā)出而進入設備的輻射。由于目標反射或儀器內(nèi)散射，本底輻射可能進入儀器。 |
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| | 黑體 |
| | 一種理想的熱輻射器，可吸收所有入射輻射，其輻射量由普朗克輻射定律確定。 |
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| | 校準程序 |
| | 一種執(zhí)行程序，用于確定并設置儀器性能影響參數(shù)，確保其設計功能滿足規(guī)定限制要求。 |
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| | 校準源 |
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| | 卡諾循環(huán) |
| | 一種理想的熱源，能夠以可實現(xiàn)的*大效率將熱能轉換為機械功。 |
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| | 攝氏溫標或C |
| | 一種溫標，其中攝氏 (TC) 溫度與開氏溫標 (TK) 溫度的關系式為：TC = TK -273.15。水在標準大氣壓下的凝固點幾乎接近于 0?C；相對應的沸點幾乎接近于 100?C。以前稱之為攝氏溫標。 |
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| | 色溫 |
| | 黑體輻射能量的光譜分布與表面輻射能量的光譜分布相同時黑體的溫度。 |
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| | 彩色體或非灰體 |
| | 一種熱輻射源，其發(fā)射率視波長而定，并非恒定值。 |
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| | 比較高溫測量法 |
| | 輻射測溫法，校準源的溫度不斷變化，直至從校準源接收到的輻射與從目標接收到的輻射相同，以此確定目標的溫度。 |
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| | 電流環(huán) |
| | 利用一對電線將信號作為電流傳輸?shù)囊环N通信形式。4 至 20 mA 電平通常分別用于表示*小和*大信號量。有時，對于數(shù)字應用領域來說，毫安電流的不同幅值用于表示邏輯 1 和 0。電流環(huán)的特性通常取決于與環(huán)路相連的設備的*大阻抗。 |
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| | D:S |
| | 光學分辨率的表示形式，是指距光點的距離除以光點的直徑所得的比率。 |
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| | 死區(qū) |
| | Temperature band (?) about the set point, wherein an alarm output or relay can not change state, thus providing hysteresis. |
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| | 探測器 |
| | 是一種變送器，其產(chǎn)生的電壓和電流與其接受電磁能量成正比。另請參見熱電堆、MCT、熱電冷卻、熱電和硒化鉛和硅探測器。 |
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| | 絕緣耐壓(絕緣擊穿電壓) |
| | 不使用壓電傳導材料時電絕緣材料可承受的*大電壓。 |
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| | 數(shù)字數(shù)據(jù)總線 |
| | 連接多臺數(shù)字數(shù)據(jù)發(fā)射器和接收機的兩條或多條電導線。 |
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| | 數(shù)字圖像處理 |
| | 將圖像轉換為數(shù)字形式，并更改圖像加以增強或預處理，供計算機或人眼分析。例如紅外圖像或溫譜圖，可能包括溫標、現(xiàn)場溫度測量值、熱曲線、圖像增加、減少、平均、過濾和存儲。 |
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| | 數(shù)字輸出間隔 |
| | 含溫度和系統(tǒng)狀態(tài)信息的數(shù)字數(shù)據(jù)包傳輸?shù)臅r間間隔。 |
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| | DIN德國標準化協(xié)會 |
| | 德國許多儀器產(chǎn)品標準的制定機構。 |
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| | 漂移 |
| | 并非由設備外部影響造成的儀器指標在一段時間內(nèi)的變化。 |
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| | EMI/RFI |
| | 電磁干擾/射頻干擾，這些會對電子設備性能造成影響。 |
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| | 發(fā)射率 |
| | 在特定波長下，物體在規(guī)定溫度下輻射的紅外能量與黑體在該溫度下輻射的紅外能量之比。黑體的發(fā)射率統(tǒng)一為全波長。 |
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| | 環(huán)保等級 |
| | 一種通常由機構和管理機構規(guī)定的等級，用于表示儀器能夠可靠工作時所處環(huán)境的等級。 |
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| | 外部復位(觸發(fā)) |
| | 通過外部復位輸入信號將一臺儀器初始化為其上電時的狀態(tài)，包括信號調(diào)節(jié)功能（峰值保持、谷值保持、采樣保持、平均、單路 RS232等)。 |
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| | 華氏溫標或F |
| | 一種溫標，在標準大氣壓力下，水的凝固點為 32?F，而蒸發(fā)溫度為 212?F。從攝氏度轉換的公式為 F = (C x 1.8) + 32。 |
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| | 失效保護工作 |
| | 一種相當遠的測量距離(通常是焦點距離的 10 倍以上)，儀器的光點尺寸變化與距儀器的距離直接成正比，而視場則恒定不變。 |
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| | 遠場 |
| | 一種相當遠的測量距離(通常是焦點距離的 10 倍以上)，儀器的光點尺寸變化與距儀器的距離直接成正比，而視場則恒定不變。 |
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| | 視場(FOV) |
| | 通過光學或紅外儀器觀測的區(qū)域或立體角度。通常通過給出儀器的光點直徑和距離光點的距離來表示。還可表示為焦點處光點的角度大小。請參見光學或紅外分辨率。 |
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| | 焦點或焦距 |
| | 在儀器內(nèi)將目標聚焦到探測器上所處距儀器的點或距離。焦點是光學或紅外分辨率*大的地點或距離。 |
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| | 滿刻度準確度 |
| | 按百分比表示儀器*大可能讀數(shù)的溫度測量準確度。 |
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| | 灰體 |
| | 一種輻射源，其發(fā)射率小于 1 但很恒定，因此，與波長無關。 |
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| | IEC國際電工委員會 |
| | 在歐洲共同體間協(xié)調(diào)并制定相關標準的一家歐洲組織。 |
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| | IEEE-488 |
| | 一種由惠普公司制定并由 IEEE 采用，使可編程儀器之間實現(xiàn)數(shù)字互連的標準。它使用 16 位總線，*多可實現(xiàn) 15 臺儀器互連。該標準包括硬件和協(xié)議選項。它還稱為“惠普接口總線 (HPIB)”或“惠普通用接口總線 (HPIB)”，又稱為“通用接口總線 (GPIB)”。目前的標準為 ANSI/IEEE-4881-1987。 |
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| | IFOV (瞬時視場) |
| | 瞬時視場是取決于探測器大小和鏡頭的儀器成像(視場)角度分辨率。對于點距儀器來說，瞬時視場 (IFOV) 和視場 (FOV) 都是一樣的。 |
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| | 圖像處理 |
| | 將圖像轉換為數(shù)字形式，并進一步增強圖像加以預處理，供計算機或視覺分析。例如，紅外圖像或溫譜圖，就可以包括溫標、現(xiàn)場溫度測量值和熱曲線以及圖像增加、減少、平均、過濾和存儲。 |
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| | 銻化銦(InSb) |
| | 一種用于制造光子探測器的物質(zhì)。光子探測器能夠感應 2.0 至 5.5 ?m 光譜區(qū)，在紅外掃描儀和成像儀中都得到了應用。這類探測器需要低溫冷卻。 |
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| | 紅外或光學過濾器 |
| | 請參見“濾譜器”或“中性密度濾光鏡。 |
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| | 紅外輻射 |
| | (0.75 至 1000 ?m 電磁波頻譜分量以內(nèi)的(紅外)輻射。 |
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| | 紅外測溫儀 |
| | 一種通過探測并量化目標中發(fā)出的紅外輻射來確定目標溫度的儀器。類型包括總強度、寬帶、窄帶和多種波長。 |
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| | 絕緣電阻 |
| | 一種材料阻止電流流動所具有的特性，單位兆歐 (M?)，表達式為外加電動勢與之所得電流量之比。 |
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| | 互換性 |
| | 在不需要重新校準系統(tǒng)的情況下將頭傳感器與同一類型的另外一個頭傳感器進行更換的能力(又稱為通用電子器件)。有些監(jiān)測器支持可以互換不同類型的頭傳感器。 |
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| | 本質(zhì)** |
| | 通過將電能限制到在儀器正常工作期間不足以點燃爆炸氣體環(huán)境的水平來預防危險區(qū)域發(fā)生爆炸的標準。 |
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| | IP指派 |
| | 依據(jù)“英國標準 4752”與保護箱有關的本質(zhì)**保護等級。保護類型由兩個數(shù)字定義，**個數(shù)字表示可達性，**個數(shù)字表示環(huán)境保護。兩個數(shù)字的前面為字母 IP。 |
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| | 隔離輸入、輸出 |
| | 輸入、輸出和供電線路采用電氣絕緣或者互相供電，由此若這些線路發(fā)生任意接地，都不會影響儀器性能，比如產(chǎn)生接地環(huán)路或者短路內(nèi)部電阻。 |
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| | 等溫線 |
| | 表面(或圖表)上由相等或恒定溫度點組成的一條連續(xù)線段(不一定是直線或平滑線)。 |
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| | JIS日本工業(yè)標準 |
| | 制定確定或確認紅外溫度計標準的一家技術主管機構。 |
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| | 開爾文或K |
| | 與目標內(nèi)部熱能直接相關的溫標。正式來說，溫標是兩個蓄水池的溫度之比等于以卡諾循環(huán)運行的熱源從其中一個蓄水池吸收的熱量與熱源釋放到另一個蓄水池的熱量之比。按照這種測定標準，水的三態(tài)點溫度定義為 273.16?K。攝氏度轉換公式為：K=C+273.16。 |
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| | 硒化鉛(PbSe) |
| | 一種用于制造光子探測器的物質(zhì)。光子探測器能夠感應 3 至 5 ?m 光譜帶。這類探測器需要熱電冷卻，在紅外溫度計、掃描儀和成像儀中都得到了應用。 |
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| | *大電流 |
| | 描述可以由帶環(huán)路阻抗毫安輸出的儀器驅(qū)動的負載大小。例如，500 歐姆*大環(huán)路阻抗意味著儀器可以將 10 伏電壓、20 毫安電流輸入該負載。 |
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| | MCT(蹄鎘汞)或HgCdTe |
| | 一種用于制造光子探測器的三元合金材料。光子探測器能夠感應 3-5?m 和 8-14?m 光譜區(qū)，并且在 3-5 ?m 區(qū)域需要熱電冷卻，在 8-14?m 區(qū)域需要低溫冷卻。 |
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| | *小光點尺寸 |
| | 儀器可符合其性能規(guī)格的*小目標直徑。 |
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| | NEMA |
| | 國內(nèi)電氣制造商協(xié)會。它的工作范圍包括制定美國關于制造保護箱的標準，與 IEC IP 類似。 |
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| | NET |
| | 請參見 NETD。 |
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| | NETD(或NE?T) |
| | 噪聲等效溫差，也就是說，黑體目標充滿輻射儀視場的溫度變化， 導致等于儀器均方根噪聲的輻射儀信號發(fā)生變化。 |
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| | 中性密度濾光鏡 |
| | 一種光學或紅外濾光鏡，其傳輸恒定持續(xù)且并不屬于一種功能或波長。 |
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| | NIST溯源性 |
| | 依據(jù)且按照 NIST (美國國家標準與技術研究院)可溯源標準校準。NIST 可溯源性是確保參考標準保持有效且其校準保持通用的一種方法。 |
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| | 光學或紅外分辨率 |
| | 目標距離與圓圈(或光點)直徑之比，為此，溫度計接收的能量是儀器在相同溫度下觀測校準源時收集的總能量的特定占比。目標距離一般是儀器的焦點距離。能量占比一般為 90 至 95%。 |
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| | 光學高溫儀 |
| | 通過比較一個溫度測量達到標準化發(fā)光源的源(通常比較人眼)來確定之前源的溫度的一種系統(tǒng)。 |
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| | 輸出阻抗 |
| | 描述任何與溫度計相連的設備所遇到的溫度計阻抗。為取得準確讀數(shù)，與溫度計相連設備的輸入阻抗必須遠遠大于溫度計的輸出阻抗。 |
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| | 峰值保持 |
| | 儀器在顯示模式啟用的持續(xù)時間內(nèi)指示的*大溫度測量輸出。 |
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| | 光電探測器或量子檢測器 |
| | 一種探測器，其中能量的光子或量子直接與探測器相互作用產(chǎn)生信號。 |
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| | 熱電檢測器 |
| | 一種熱探測器，它具有通過探測器溫度變化產(chǎn)生電信號的熱電效應所生成的信號。 |
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| | 高溫儀 |
| | 一類廣泛應用的溫度測量設備，原來設計測量高溫，但是有些現(xiàn)已應用到任何溫度范圍中。包括輻射高溫儀、熱電偶、電阻測溫儀和熱敏電阻。 |
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| | 輻射溫度 |
| | 黑體輻射率等于特定波長或波長帶目標的輻射率時黑體的溫度。 |
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| | 輻射能量 |
| | 目標因其溫度而發(fā)出的電磁能量。 |
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| | 輻射測溫儀 |
| | 用于通過確定目標發(fā)出的電磁輻射量來測量目標溫度的一種設備。另外，還是通過校準指示黑體溫度的輻射儀。 |
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| | 蘭氏溫標或R |
| | 相對于華氏溫度的絕度溫標，其表達式等同于開氏溫標對攝氏溫標。R = 1.8 x K，也可以是 R = F + 459.67。 |
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| | 參考結或冷結 |
| | 參考熱電偶結必須是已知數(shù)，以便推導出其他結或熱電偶測量結的溫度。 |
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| | 反射率 |
| | 從表面反射的輻射能量與表面入射的輻射能量之比。 |
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| | 反射能量補償 |
| | 用于補償從儀器目標上反射掉的本底紅外能量來實現(xiàn)更高**度的變量。若已知背景溫度，那么就可以糾正儀器讀數(shù)。 |
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| | 相對濕度 |
| | 實際空氣蒸汽壓力與飽和蒸汽壓力(縮寫為 RH)的無窮小量之比。按百分比表示相對濕度為 RH 與 100 之乘積。例如，若 RH 為 0.30，那么相對濕度按百分比表示為 30%。 |
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| | 可重復性 |
| | 一臺儀器在相同環(huán)境和目標條件下經(jīng)過連續(xù)測量對相同目標給出相同讀數(shù)的程度。ASTM 標準 E 1256 對其的定義為在儀器量程中間測量溫度 12 次所得到的采樣標準偏差。一般表示為溫差，滿量程值占比，或者兩者皆有。 |
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| | 分辨率 |
| | 請參見“溫度分辨率”、“光學分辨率”或“空間分辨率”。 |
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| | 響應時間 |
| | 儀器的輸出受影響于目標溫度等同儀器可測量*大溫度過程中的瞬時變化時，輸出變化到*終值 95% 的時間(依據(jù) ASTM E 1256)。軟件在處理器內(nèi)部計算時所需要的平均時間，也包含在這項雷泰產(chǎn)品規(guī)格中。 |
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| | RS-232 |
| | 建議標準 (RS) 232 是由主管數(shù)據(jù)處理和數(shù)據(jù)通信設備間串行通信接口的電子工業(yè)協(xié)會 (EIA) 制定的一種標準，它還廣泛用于將微處理器連接周邊外設。[參考 1] 目前的版本是 EIA-RS-232-D，定義運用串行二進制數(shù)據(jù)交換的數(shù)據(jù)終端設備 (DTE) 和數(shù)據(jù)通信設備 (DCE) 之間的接口。此標準未定義二進制流的協(xié)議或格式。標準包括三個部分：電氣特性、接口機械特性和交換電路的功能說明。等同的國際標準有“國際電報電話咨詢委員會 (CCITT) V.24”。 |
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| | RS-422 |
| | 一種由電子工業(yè)協(xié)會 (EIA) 制定的建議標準，定義了一種平衡接口，而且還擴展了 RS-423，將數(shù)據(jù)傳輸率增加至 10 Mbps。 |
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| | RS-423 |
| | 一種由電子工業(yè)協(xié)會 (EIA) 制定的建議標準，定義了一種非平衡接口，而且還擴展了 RS-232，并提供了多種改進，包括增加連接電纜長度、增加數(shù)據(jù)傳輸率和在線路上使用多個接收機。 |
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| | RS-485 |
| | 一種由電子工業(yè)協(xié)會 (EIA) 制定的建議標準，改進了 RS-422，可以在線路上允許增加接收機和發(fā)射器的數(shù)量。 |
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| | RTD電阻溫度設備 |
| | 一種電阻隨溫度變化的接觸式測量設備。 |
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| | 采樣保持 |
| | 從目標獲取的溫度，顯示或保持一段設定的時間，或者直到下一次外部復位發(fā)生為止。 |
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| | 散射 |
| | 目標反射以外的從背景到達儀器探測頭的輻射能量。 |
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| | 設置點 |
| | 測量值通過時會觸發(fā)時間和/或?qū)е吕^電器改變狀態(tài)的過程或測量變量設置。 |
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| | 沖擊測試 |
| | 目標或測試儀器承受能夠使機械振動產(chǎn)生共振的沖力的一種沖擊測試。 |
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| | 信號處理 |
| | 為增強溫度數(shù)據(jù)而對數(shù)據(jù)進行的處理。例如，信號處理功能包括“峰值保持”、“谷值保持”和“平均”。 |
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| | 硅(Si)探測器 |
| | 測量高溫過程中使用的一種光子探測器。 |
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| | 源尺寸效應 |
| | 能量收集和溫度讀取時儀器隨著超出儀器視場范圍的目標尺寸的增加而增加的效應。它由兩種現(xiàn)象造成的：剩余能量大于用于定義位置的百分比和輻射進入儀器致使儀器視場外面的能量也進入儀器時發(fā)生散射。若存在這種效應，意味著儀器準確度可能受到目標影響，目標要么太大要么太小。該效應又稱為“目標尺寸效應”。[ASTM STP 895] |
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| | 斜率 |
| | 雙色輻射儀的兩個光譜帶的發(fā)生率之比。短波長帶的發(fā)射率除以長波長帶的發(fā)生率。斜率可以大于、等于或小于 1。斜率說明在物質(zhì)中發(fā)射率隨波長變化。 |
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| | 濾譜器 |
| | 用于通過光譜限制輻射能量到達儀器探測器的傳輸過程的一種光學或紅外元器件。 |
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| | 光譜響應 |
| | 紅外溫度計感應的波長區(qū)域。 |
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| | 光點 |
| | 進行溫度確定的目標相關區(qū)域的直徑。光點由目標處的圓孔來確定。通過圓孔，儀器通常可以收集目標紅外能量的 90%。另請參見“源尺寸效應”。 |
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| | 停滯或滯后 |
| | 目標從視場移除后儀器信號持續(xù)超過響應時間的一種飽和效應?？赡苁且驗閷鞲衅鞅┞队诟邷啬繕说臅r間過長。效應表現(xiàn)為對傳感器所需響應時間的增加可恢復至正確讀數(shù)的 5% 范圍以內(nèi)。 |
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| | 儲存溫度 |
| | 儀器可在非工作“Range”(范圍)模式中存放而且在工作時按照規(guī)格執(zhí)行的環(huán)境溫度范圍。 |
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| | 目標 |
| | 確定溫度的目標。 |
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| | 目標尺寸效應 |
| | 請參見“源尺寸效應”。 |
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| | Teflon® |
| | Teflon® 是 DuPont 的品牌名和注冊商標。 |
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| | 溫度 |
| | 目標熱接觸另一個目標時確定熱量流向的目標屬性(例如，熱量從高溫區(qū)流向低溫區(qū))。 |
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| | 溫度系數(shù) |
| | 儀器隨其校準環(huán)境溫度的變化而發(fā)生的準確度變化。通常表現(xiàn)為每次環(huán)境溫度變化，**度均按百分比變化(或其他程度的誤差)。對于環(huán)境狀況發(fā)生迅速變化，請參見“熱沖擊”。 |
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| | 溫度分辨率 |
| | 給出可用的輸出和/或指標變化的目標溫度*低模擬或?qū)嶋H變化。 |
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| | 瞬時漂移 |
| | 請參見“溫度系數(shù)”。 |
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| | 熱探測器 |
| | 從探測器將外來輻射的光子轉換為熱量，然后再轉化為信號的探測器。熱探測器包括熱電、輻射熱和熱電堆類型。 |
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| | 熱漂移 |
| | 請參見“溫度系數(shù)”。 |
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| | 熱輻射 |
| | 因自身溫度而發(fā)出電磁能量的目標。 |
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| | 熱沖擊 |
| | 因儀器環(huán)境溫度發(fā)生迅速變化而造成的誤差。表示為*大誤差和信號恢復到規(guī)定規(guī)格所需要的時間。 |
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| | 熱敏電阻 |
| | 電阻率隨溫度變化的半導體材料。 |
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| | 熱電偶 |
| | 用于通過珀爾帖效應測量溫度的兩種不同金屬的兩個結，由此，通過電流流過兩種不同金屬的一個結來釋放或吸收熱量，使電勢按結溫度差比例在這兩個結之間形成。有多種類型，包括：J (Fe /康銅) K (鎳鉻/鎳鋁) T (Cu /康銅) E (鎳鉻/康銅) R (Pt / Pt - 30% Rh) S (Pt / Pt -10% Rh) B (Pt - 6% Rh / Pt - 30% Rh) G (W / W - 26% Re) C (W - 5% Re / W - 26% Re) D (W - 3% Re / W - 25% Re) |
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| | 熱電(TE)冷卻 |
| | 基于珀爾帖效應的冷卻方法。電流流過兩種不同金屬的兩個結。一個結變熱，而另一結變冷。來自熱結的熱量發(fā)散到環(huán)境中，而來自另一個結的冷度用于冷卻。 |
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| | 溫譜圖 |
| | 通過掃描目標或現(xiàn)場生成的熱輻射照片。 |
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| | 熱電堆 |
| | 大量串聯(lián)的相似熱電偶，經(jīng)過排列使交替結處于參考溫度和測量溫度，從而增加參考結和測量結間規(guī)定溫度差的輸出。 |
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| | 時間常數(shù) |
| | 傳感器件響應達到目標等級變化 63.2% 的所需時間。 |
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| | 傳遞標準 |
| | 一種使用美國 NIST 可溯源校準(使用適用于國際客戶的其他公認標準)的高**輻射測量儀，用于校準輻射參考源。 |
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| | 透射率 |
| | 目標外來紅外輻射能量與離開目標的紅外輻射能量之比。 |
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| | 跳閘點 |
| | 物質(zhì)的氣態(tài)、液態(tài)和固態(tài)可以平衡存在的溫度與壓力狀況。對于大氣壓下的水，這通常稱為水的凝固點。 |
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| | 比色測溫法 |
| | 一種測量兩種不同波長帶(色彩)以確定溫度的技術。已經(jīng)表明，雙色技術能夠有效地糾正因粉塵顆粒造成目標局部堵塞而產(chǎn)生的誤差。 |
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| | 谷值保持 |
| | 儀器在顯示模式啟用的持續(xù)時間內(nèi)指示的*小溫度測量輸出。 |
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| | 驗證 |
| | 確認設計性能達到所有規(guī)定的規(guī)格。 |
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| | 振動測試 |
| | 目標中感應到振蕩或重復運動的一種測試(按照 MIL-STD-810 或 IEC 68-2-6)，它指定為以 g?s 和功率譜密度 (PSD) 為單位的加速度，之后測試儀器是否正確運行。 |
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| | 預熱時間 |
